膜厚測定器
レーザ光線を光源に使用した光透過型の非接触膜厚測定器です。レーザ光を絞ることにより、１０ミクロンオーダーのごく小さい部分の膜厚を測定することもできます。光が測定物を透過したときの減衰（吸収）量から厚さを求めるので、光を全く透過しないものは測定できません。
磁気テープの磁気膜の厚さ、アルミシートのアルミ膜の厚さ測定等に使用されています。
放射線を用いた方法に比べ、きわめて廉価で使い勝手も簡便です。
用 途
- アルミ蒸着フィルム製造ラインでの膜厚測定。
- 光が透過するフィルム等の製造ラインでの膜厚測定。
仕様例
- 測定物 ： 透明フィルムに蒸着されたアルミ膜
- 測定範囲： ４００〜８００Ａ（ベースが透明フィルムの場合）
- 光 源 ： 半導体レーザ
- 表 示 ： ディジタル３桁
- 使用場所： 真空蒸着装置内
構 成
- 送光部 １台
- 受光部 １台
- 表示部 １台
- 接続ケーブル １式
上記の仕様は一例です。仕様はお打ち合わせの上、決めさせていただきますので下記までご連絡ください。
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